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日本電子(株)【6951】の掲示板 2019/02/27〜2020/02/21
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>>762
ありがとうございます、
返信にお時間ください。難しくて今勉強中です、本当に感謝申し上げます！
新着通知はありません。
最近見たスレッドはありません。
＜重要なお知らせ＞掲示板の利用規約について
この度、Yahoo!ファイナンス掲示板の利用規約を改訂いたしましたのでお知らせいたします。
主な修正点として、各禁止事項における詳細説明及び禁止投稿例を追加しました。
規約はこちら→【掲示板】禁止行為、投稿に注意が必要な内容について
【改めてご確認ください】
・他人の個人情報にくわえ、投稿者自身の個人情報も削除対象です。
・無関係な画像や漫画・アニメなど他人の著作物だと判断される画像は削除対象です。
・同様の画像がプロフィールで使用されている場合は、初期化対象です。
この度、Yahoo!ファイナンス掲示板の利用規約を改訂いたしましたのでお知らせいたします。
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【改めてご確認ください】
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・無関係な画像や漫画・アニメなど他人の著作物だと判断される画像は削除対象です。
・同様の画像がプロフィールで使用されている場合は、初期化対象です。
頑張れロールtoロール
>>760
レーザーテックのマスク検査装置は最先端の微細なマスクには使用できないと思います。分解能の違いによるものです。ホロンなどが販売しているマスク検査装置は電子ビーム型、つまり走査電子顕微鏡の原理ですが、レーザー顕微鏡はレーザー光の波長に依存します。ですからEUVは勿論のこと最先端のmemory等には使用できません。
日本電子のJEM-ACE200Fは透過型電子顕微鏡（TEM）の原理を利用します。電子ビームの透過能に依存します。対して走査電子顕微鏡（SEM）は検査対象表面に照射して表面形状を観察します。
ちなみに電子ビームの加速電圧を上げることで積極的にバックスキャッタを利用してレジスト内部に埋もれた欠陥を検査する試みも行われているみたいです。