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皆、半導体にやれ、どうのこうのでしょうけど。
リガク・ホールディングスのグループ会社である、Ｘ線分析装置の世界的ソリューションパートナーの株式会社リガクは、B型小惑星「ベンヌ（101955 Bennu）」の砂粒に対し、波長分散型蛍光Ｘ線分析装置「ZSX Primus IV」を用いた分析を実施しました。
「ベンヌ」の砂粒は、アメリカ航空宇宙局（NASA）の小惑星探査機「オシリス・レックス」が採取した試料です。リガクでの「ベンヌ」に関する分析は今回2度目です。初回の昨年12月には、熱分析を用いて試料に含まれる水分量と炭素量を測定しました。今回の蛍光X線分析は、日本の探査機「はやぶさ2」が持ち帰った小惑星「リュウグウ」試料の化学分析を指揮した、圦本（ゆりもと） 尚義教授(北海道大学大学院理学院)立ち会いの下、リガクアプリケーションラボ XRF分析グループが実施しました。
宇宙分野にも貢献してますよ。