ここから本文です

報道関係各位
2019年4月9日
東京エレクトロン デバイス株式会社

AI検査システムを低コスト、短期間で実現する「TED AIプラットフォーム」を開発
~不良品の流出を防ぎ過検出を低減~
「TED AIプラットフォーム」では、ディープラーニングを用いた識別技術により検査対象物の特徴から判別が行えるため、個体差がある対象物の判別、位置のバラつきへの対応、官能検査など、さまざまな用途での利用が可能です。
複数の検査対象物を個別に推論処理する当社独自技術により、複数の製品が同時に流れてくるラインでの活用が可能になり、検査効率が向上します。また、推論処理の高速化を実現するためにインテルのディープラーニングのツールキット「OpenVINO™」を用いることで、AI検査システムを、低コスト、短期間で実現します。