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Mipox(株)【5381】の掲示板 2021/10/07〜2021/10/20
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>>696
XS-1は光学式としての偏光や複屈折特性を基本として、従来にない一軸性極性結晶体に特化した独自の光学系と位相差演算を駆使した技術(特許出願済)でシンクロトロン放射光によるX線トポグラフィーなどの大型放射光施設の観察に匹敵、あるいはそれ以上の情報を得ることに成功しました。それにより材料の評価が現場レベルで可能になり、またそれに要するコストが大幅に軽減されます。
s24***** 2021年10月16日 08:41
Mipox社が、「XS-1」を産総研・先進パワーエレクトロニクス研究センター
及び、名古屋大学に納入しました。
SiC結晶転位・高感度可視化装置 XS-1:
単結晶SiC・GaNウェーハ内部の、結晶転位による内部の歪みを可視化し、
観察します。
単結晶ウェーハ欠陥の観察が重要:
“SiC・GaN”は、次世代パワー半導体の新たな材料として大きな注目を
集めています。
これらの市場の拡大を支えるため、単結晶ウェーハに含まれる結晶欠陥の
観察も重要です。
“XS-1”は、従来の市販の偏光顕微鏡よりも、遥かに高感度な偏光光学系を
搭載しています。
パワー半導体デバイスの特性や、
パワー半導体デバイスの信頼性に、
悪影響を及ぼす可能性のある、結晶転位に由来した、
「結晶内部歪みの可視化による観察」を実現しています。
産総研の研究結果:
「SiCウェーハの結晶転位に対するXS-1の感度」は、
「放射光X線トポグラフィーに匹敵すること」が確認されました。
名古屋大でも、GaNウェーハ用の結晶転位可視化装置として採用されました。
Mipox(マイポックス)とは:
研磨材・研磨装置メーカーであり、光学観察・可視化装置の販売。
革新的なXS-1により、SiC・GaNをはじめとする次世代パワー半導体材料や、
サファイア・AlN・ダイヤモンド等の結晶転位観察の精度・スループットの
飛躍的な向上が大きく期待されます。