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半導体バーンイン装置にかけたらたぶん　１％以下の良品がとれるか取れないか

バーンインの目的

測定されているデバイスに温度と電圧、最近では電流負荷をかけることによって被測定デバイスを寿命加速させ、初期不良をスクリーニングすることにあります。なお、初期不良とは主に以下の４種類が挙げられます。

酸化膜破壊

汚染による特性変動

パーティクルによる破壊及び特性変動

マイグレーションによる配線破壊