株式会社東陽テクニカ(8151:以下 東陽テクニカ)は、東陽テクニカ米国子会社のTOYOTech LLC(以下 TOYOTech)が、シャープディスプレイテクノロジー株式会社、国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学と共同で、有機EL素子の超低輝度における挙動を調べる検査技術を開発したことをお知らせいたします。本技術は、有機EL素子に急激に電流が流れ始める電圧と発光開始電圧の差が素子の劣化に伴い大きくなることに着目してこの差を数値化するもので、長寿命化が要求される有機EL素子において、劣化や低輝度で発生する表示ムラの解析に役立つことが期待されます。本技術について、8月に韓国で開催されたディスプレイに関する国際会議International Meeting on Information Displayにて、三者による共同発表を行いました。
有機EL素子の超低輝度における挙動を調べる検査技術を開発
米国子会社TOYOTechが製品化、10月に世界で販売開始予定
株式会社東陽テクニカ(8151:以下 東陽テクニカ)は、東陽テクニカ米国子会社のTOYOTech LLC(以下 TOYOTech)が、シャープディスプレイテクノロジー株式会社、国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学と共同で、有機EL素子の超低輝度における挙動を調べる検査技術を開発したことをお知らせいたします。本技術は、有機EL素子に急激に電流が流れ始める電圧と発光開始電圧の差が素子の劣化に伴い大きくなることに着目してこの差を数値化するもので、長寿命化が要求される有機EL素子において、劣化や低輝度で発生する表示ムラの解析に役立つことが期待されます。本技術について、8月に韓国で開催されたディスプレイに関する国際会議International Meeting on Information Displayにて、三者による共同発表を行いました。
2024年10月1日には、「DCM1000型DC-JVL測定システム」として、米国や、日本をはじめとしたアジア圏、ヨーロッパ圏に向けて、TOYOTechが販売を開始いたします。
【 背景／概要 】
有機EL素子は、数十ナノメートルの薄膜を多層に積み重ねて形成されており、この薄膜の成膜条件の最適化を行うために特性評価があります。この特性評価は、J-V-L(電流密度-電圧-輝度)特性と呼ばれる電圧を印加しながら素子に流れる電流と発光輝度(※2)の同時測定を行うのが一般的です。しかしながら、J-V-L特性では、素子の発光開始時における微小電流と低輝度については、装置の感度の限界から測定ができませんでした。
今回開発した技術では、有機EL素子に流れる微小電流(変位電流)と、高感度のシリコンフォトダイオードによる発光強度の同時測定を行い、急激な電流変化が発生する電圧と発光開始電圧の差を検出して、解析を行います。また、超低輝度のみならず高輝度での電流、発光強度についても範囲を常に最適化しながら一貫して測定を行うことができます。有機EL素子の劣化で発生する表示ムラの解析に活用でき、有機EL素子のさらなる性能向上に寄与します。