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(株)東京精密【7729】の掲示板 2024/08/10〜
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755
>>754
図での解説ありがとうございます。
少し誤った解釈をしてしまう可能性がありますので補足をさせて頂きます。私は随分と昔にテスターの開発にも参画し半導体製造現場でも装置立ち上げ等の仕事を長く経験しましたが、なにせ昔の事ですし、現在の姿や様々な会社での製造現場、また半導体の品種によっても違いがありますので、そこは想像となります。その事を考慮頂き参考として下さい。おいおい気が向けば専門的なことも投稿させて頂きます。
さて本題ですが図にあるウエハプローバはテストヘッドと呼ばれる部分でアドバンの検査機の一部となります。昔はこの中は信号のDr/Check系の回路基板がメインでしたがテストの高速化に伴いSkew精度やインピーダンス特性等の関係でパターンジェネレーター(以下PG)系の制御基板もテストヘッドに組み込まれています。PGにはRate,STB等の内部制御ジェネレータ系、CLK,ADD,Data等の外部出力のジェネレータ系の基板、生成された信号のフォーミングを行うフォーマッタ回路、アドレスをスクランブルさせるアドレススクランブラ等があり、またPGの基本となる発生回路もアルゴリズミックパターンジェネレーター(ALPG)やシーケンシャルパターンジェネレーターなど色々あります。という事で図にある部分はアドバンストの設備になります。
長くなりますので次に続きます
プローバとテスタは1対1で接続して使う装置ということですな
投資の参考になりましたか?