ここから本文です

盆休み、明細書をざっと読んでみたがインライン化に向けた計測スピードアップ手段として以下が考案された様だ。

特許請求範囲5によれば、
「イメージングプレートは3組あり、それぞれの組の前記イメージングプレートを、順に回折X線が入射する位置まで移動させる移動手段と、1つの組の前記イメージングプレートに回折環が形成されている間、前記回折環検出手段を制御して別の1つの組の前記イメージングプレートに形成された回折環の形状検出を行うとともに、前記回折環消去手段を制御して、別のもう1つの組の前記イメージングプレートに形成された回折環の消去を行う測定制御手段とを有することを特徴とする」
で、これだけで計測時間1/3に短縮可能かな?

更に、明細書には、
「受光手段は、撮像面に回折X線の像が形成され、形成された回折X線の像の形状を検出することができればどのようなものでも用いることができ、例えば、X線CCDやX線CMOS等の撮像素子を2次元に並べたイメージセンサ、2次元のマイクロギャップ方式、X線強度を検出する微小開口のセンサ(シンチレーションカウンタ等)を2次元で走査する手段、又はイメージングプレートと該イメージングプレートにレーザ光を走査して走査位置と蛍光強度を検出する手段等がある 」
となっており、更なるスピードアップ手段も模索している様子。

尚、残留応力取得手段はもちろんオンリーワン技術のCOSα法だ。