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4月25日付け特開2019-66336にて、X線回折測定装置に関する新たな公開特許公報が開示されている。審査請求付きだが今後、用途が更に広がる可能性もあり楽しみではある。特許囲い込みもここまでくれば向う10年くらいはとりあえず食えそうかな(笑)。
内容は、
測定対象物の結晶粒が大きかったりすると明瞭な回折環が検出されない場合がある為、従来はX線回折測定装置の筐体を揺動させる機構を設けることにより明瞭な回折環を得る必要があったが、この場合、筐体を揺動させるための装置のコストがアップするという問題や、装置の重量がアップして運搬の負担が増大するという問題があった。本発明はこの問題を解消するためなされたものだそうだ。
本新技術にて揺動装置が不要となり、測定現場では更に使いやすくなるみたいだな。

当社単独出願でもあり又、特許出願公開されたことで今回はIRも早めに開示できるだろう。